眾所周知，在影響產品質量特征值變異的六個基本質量因素(人、機器、材料、操作方法、測量和環境)中，測量是其中之一。與其它五種基本質量因素所不同的是，測量因素對工序質量特征值的影響獨立于五種基本質量因素綜合作用的工序加工過程，這就使得單獨對測量系統的研究成為可能。而正確的測量，永遠是質量改進的第一步。
首先我們知道一個好的測量系統具備的條件：
量具良好且分辨力足夠(公差1/10或過程變差1/10)
人員測量手法熟悉(測量點把握、量具使用技巧等)
選樣合理(分布整個生產過程)
計量型測量系統判定標準：

結果	判斷
%GR&R＜10%	可接受
10%≤%GR&R≤30%	有條件接受
%GR&R＞30%	不接受

重復性EV對GRR的影響：
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由上面兩條公式可知GRR與EV成正比，而EV由R決定，故R的大小直接影響GRR的大小。(R：是三名檢驗員分別單獨對10個件測量后的測量極差的平均值，R=(Ra+Rb+Rc)/3)所以MSA不合格，一是重復性EV偏高了，從而推出R偏高。反映了同一檢驗員測量同一零件三次，結果差別大;例如下表的針對某卡尺進行的測量系統分析A人員的數據。
從上圖和上表可以明顯的看出，檢驗員A測量零件2和零件4時，三次測量結果偏差大。重復性%EV計算結果為：45.28%，不合格。
針對上面問題的可能原因：

1	檢驗員對檢驗手法不熟悉，缺少經驗；例如，從其他崗位臨時調過來。
2	測量手法發生變化；例如，此特性原本用檢具檢測，考核時使用了另外一種測 量工具。
3	測量位置不好把握；

詳細影響重復性可能原因，見《MSA手冊》第四版P51-52
應采取措施：

1	進行測量技巧培訓；例如，在正式測量前，讓檢驗員試幾遍，從旁指導等。
2	制作簡易工裝進行定位。

再現性AV對GRR的影響：
跟GRR與EV的關系相似，AV中的XDIFF 的大小直接影響GRR大小。( XDIFF ：是三名檢驗員分別單獨對10個件測量后的零件平均值的極差;計算公式：XDIFF =MAX( Xa，Xb，Xc)-MIN( Xa，Xb，Xc))
所以MSA不合格，另一個原因是AV偏高了，從而推出XDIFF 偏高，反映了三個檢驗員之間的測量結果相差較大。
從上圖可明顯的看出，檢驗員C所測量數據比其他兩名檢驗員的低，從而導致零件平均值的極差( XDIFF )被拉大。最終再現性%AV=35.18%，不合格。
針對上面問題的可能原因：

1	檢驗員測量手法不一致；例如，檢驗員C使用卡尺時力度過大或檢驗員A和B力度過小。
2	測量方法不一致；例如，檢驗員C與檢驗員A和B的測量固定點不一樣。
3	觀測造成的誤差；例如，讀數時讀錯了。

詳細影響再現性可能原因，見《MSA手冊》第四版P52-53
應采取措施：

1	進行測量技巧培訓；例如，力度的把握。
2	測量前明確需注意的地方。
3	零件變差PV對%GRR的影響

樣品的選擇十分重要，GRR樣品的選取應該盡可能的覆蓋制造過程中可能出現的范圍。應避免的情況是：取連續的產品 ;或只取一個穴號 ;或短時間內取樣 。
在過程平均附近抽出樣品測量分析結果比實際不好
比過程分布更寬的范圍內抽出樣品測量分析結果比實際好
樣品充分反應在整個過程分布時才有意義
從上面公式可知，計算%GRR時，除了GRR本身外，也受零件變差影響。%GRR 與PV成反比，而PV由RP決定，故RP越大，%GRR越小。( RP：10個樣件的極差值;RP= Xmax-Xmin)所以MSA不合格，還有一個原因是PV偏小，從而推出RP偏小，即樣件的零件變差沒有覆蓋整個過程變差。如果零件變差覆蓋整個過程變差，則體現在均值圖上大部分點超出控制限。
如下圖(某測量系統分析均值圖)可以看出，代表零件變差的曲線大都在控制限內，由于此均值圖的控制限值是以重復性誤差為基礎( UCL/LCL=XP±A2R)，如果沒有或很少子組平均值在控制限外，說明零件間變差隱蔽在重復性中，測量變差支配著過程變差，如果用這些零件代表過程變差，則是不可接受的。
由下圖(某扭矩扳手測量系統分析)可以看出，代表零件均值的點大多落在控制限外，說明了零件變差大于測量變差，這些零件可用來代表過程變差。如果出現上述樣品零件變差沒有代表過程變差的情況，則需重新選樣，可以分多天來進行，每天取一個樣品。


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